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LWD200-4XI倒置金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究。并广泛应用于集成电路IC行业、电子半导体业。也可用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相的研究分析等工作。本仪器可配用摄影装置进行显微摄影。
LWD200-4XI倒置金相显微镜的主要技术参数
1、物镜：
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类别 |
放大倍数 |
数值孔径
N．A |
系统 |
工作距离
（mm） |
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消色差物镜 |
10X |
0.25 |
干 |
7.32 |
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半平场消色差物镜 |
40X |
0.65 |
0.66 |
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消色差物镜 |
100X |
1.25 |
油 |
0.37 |
2、目镜
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类别 |
放大倍数 |
视场直径（mm） |
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平场目镜 |
10X |
18 |
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12.5X |
15 |
3、摄影目镜：（选购件）：1X，0.44X
4、观察方式：4XI单筒目镜 4XB双筒目镜
5、仪器总放大率及物视场
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物镜
目镜 |
10X |
40X |
100X |
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10X |
100X
Ф1.8mm |
400X
Ф0.45mm |
1000X
Ф0.18mm |
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12.5X |
125X
Ф1.5mm |
500X
Ф0.38mm |
1250X
Ф0.15mm |
6、机械筒长：160mm
7、微动调焦：
调节范围：7mm
刻度格值：0.002mm
8、粗动调焦范围：7mm
4XI/4XB：机械工作台：200×180 移动范围: 78 ×52 mm
9、载物台
10、载物片孔径：Ф10, Ф20, Ф42 (mm)
11、照明灯泡: 6V20W溴钨灯
12、变压器：220伏/输出压可调(内装于底座中)
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